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Senis磁场测绘仪MMS-2A-ROT
- 品 牌：Senis
- 型 号：MMS-2A-ROT
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技术资料：
Senis磁场测绘仪MMS-2A-ROT.pdf
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产品介绍
MMS-2A-ROT 磁场测绘系统是一款精细仪器，专为准确、高效地测绘沿径向或轴向磁化的圆柱形永磁体（如转子、圆盘或环形磁体）而设计。该系统配备的 3 轴霍尔探头具有仅 150×150×10 微米的磁敏体积，可对单点处的磁场分量进行准确测量。系统包含用于电机控制的多功能数据采集卡，以及用于以高精度夹持待测磁体的非磁性多爪滚轮卡盘。该软件易于定制，可详细显示所有磁场分量及总磁场的图形和数值。系统精细且快速的测量能力使其不仅适用于生产环境，也适用于所有需要进行高速、高精度测量以满足开发、认证和生产需求的工程师及科学家。
性能特点
- 采用具有高空间分辨率（150×10×150μm）的真正三轴霍尔探头，对磁场进行完整的3D（Bx、By、Bz）映射
- 对多极磁体进行整体面分析，包括很宽、零交叉、SPD、TPD及空间频率分析
- 以高磁场分辨率和卓绝精度对直流及交流磁场进行采样，采样速率高达30kHz
- 快速扫描，扫描速度可调，高可达180°/s
- 通过1D、2D和3D可视化磁场数据，实现详细分析与理解
- 用户友好的软件，操作简便，数据分析轻松
技术参数
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产地 |
瑞士 |
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扫描范围 |
Z轴（垂直）：155 mm |
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X轴（径向）：55 mm |
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R轴（旋转）：360° |
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尺寸 |
240 x 340 x 500 mm |
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FSV至磁体表面的min距离 |
0.5 mm |
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max扫描速度 |
180度/秒 |
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旋转中心检测精度 |
0.3 mm |
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磁场测量规格 |
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可用测量范围 |
标准：±100 mT |
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可选：±500 mT，2T |
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分辨率 |
优于测量范围的0.05% |
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精度 |
优于测量范围的1%，2T时优于2%。 |
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采样率 |
30 kSamples/s（3通道采集） |
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频率带宽 |
直流至25 kHz（-3dB点） |
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系统要求 |
配备Windows 7/10系统及USB 2.0接口的电脑 |
产品应用
- 适用于圆柱形磁铁和磁铁组件的多功能检测，特别是永磁转子和多极传感器磁铁
- 生产过程中的质量评估，适用于单极和多极永磁体、转子、编码器等组件
- 磁铁系统的开发、设计流程的优化与验证
- 集成于半自动化生产线
津公网安备12010102000945号
